中文名称:
X射线测厚仪
纸张测厚仪 薄膜测厚仪 涂层测厚仪 在线测厚仪
超声测厚仪
压力测厚仪
白光干涉测厚仪
电解式测厚仪
机械接触式测厚仪
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。
主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.
纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
涂层测厚仪:用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.
超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
测厚仪 测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量,
BUT300超声波测厚仪
当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
2、精度高
4、保修3年
5、平时使用无须校准.
6、低价位
HS2200采用了磁性测厚方法,HS2200镀层测厚仪无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。HS2200镀层测厚仪能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。HS2200镀层测厚仪一种便携式测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。
使用环境温度:0~40℃
电源:镍氢电池
外型尺寸:120×80×30mm
重量:200g
测量范围:0~1250μm
测量误差:(2%H+1)二点校准精度1%
主要功能
二种校准方法:一点校准、二点校准
显示分辨率:1μm
存储:存储100个数据
统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)
有两种测量方式:连续测量和单次测量
有两种关机方式:手动关机和自动关机
有删除功能:对粗大误差及错误设置可进行删除处理;
有音乐铃声随时对操作进行提示
有电源欠压指示功能,背光设置.
错误提示功能
纸张测厚仪性能特点及参数
该仪器适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
技术指标:
1.测量范围:0-3mm
2.测量精度:0.001mm
3.接触压力:100±10kpa
4.接触面积:2±0.05cm2
非接触式纸张测厚仪
最近英国真尚有公司研发出了新的非接触式测量方法,可以实现对纸张的非接触式测量,避免对纸张造成形变引起误差。
非接触式测厚仪的测量原理
使用两个纸张厚度
1、塑料上的铜、铬层:建议用库仑法测厚仪(会破坏镀层)或X射线测厚仪(无损测量),如铜层在10m~200m可考虑电涡流法测厚仪(无损测量)。
2、金属件上镀锌层:如在钢铁基体上应使用经济的磁感应法测厚仪(无损测量)。其它金属基体用库仑法测厚仪(会破坏镀层)或X射线测厚仪(无损测量)。
3、铁基体上的电泳漆,油漆应使用经济的磁感应法测厚仪(无损测量)。其它金属基体上的电泳漆,油漆应使用经济的电涡流法测厚仪(无损测量)。
4、干膜是指己固化了的油漆涂层。
5、镀铬层参考2项、1项。
6、车内外饰件喷漆只有用切锲法(PIG,会破坏涂层),超声波法(无损测量)可测10微米以上涂层,但有时测不到。
测厚仪使用主意事项 测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。
HG/T3240-1987搪瓷测厚仪技术条件
HG/T3240-2007电脑膜层测厚仪
HG/T3241-1989内孔涂层测厚仪技术条件
HG/T3241-2007电脑内孔膜层测厚仪
JJF1126-2004超声波测厚仪校准规范
JJG(轻工)87-1992便携式地毯测厚仪检定规程
JJG(轻工)88-1992数显式地毯测厚仪检定规程
JJG403-1986超声波测厚仪
JJG480-1987X射线测厚仪检定规程
JJG480-2007 X射线测厚仪检定规程
JJG818-1993 电涡流式测厚仪(试行)
JJG889-1995磁阻法测厚仪
NJ372-1985 轮辋用测厚仪
ZBN13003-1987搪瓷测厚仪技术条件
ZBN72023-1989内孔涂层测厚仪技术条件
ZBN77001-1989超声测厚仪通用技术条件
1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
2.在测量的时候要注意,侧头与试样表面保持垂直。
3在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4.在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
5.测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
6.测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
7.在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。
8.在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。




