在
随着存储测试技术的发展，存储测试系统逐渐模块化、标准化和系列化。如果将一些功能模块制成ASIC，就会满足动态测试对测试装置的要求，并使存储测试系统可靠性得到极大地提高。图1为使用专用集成电路设计的存储测试系统。电荷放大器是测试系统中的一个串联环节，因此它的失效直接影响整个系统的失效。
图2为电荷放大器原理图。
压电晶体受到压力作用产生电荷Q；Ca是
U0=-A×Ud
因此作用在Cf两端的电压为：
Ucf=Ud-（-A×Ud）=Ud×（1+A）
假设反馈电阻Rf的阻值为无限大：
Q=Qa+Qc+Qi+Qf=Ud×（Ca+Cc+Ci+（1+A）Cf）
所以
在精度的范围内可以忽略部分数量级小的部分，可以认为：
根据传感器的电荷灵敏度、量程和反馈的电容计算出输出的最大电压。
