1、RS-232接口,USB或以太网可选
2、双通道（标准型），四通道可选
3、高精度:0.03Hzat10个读数/s
4、沉积速率/膜层厚度模拟输出>多通道石英晶体监测仪的参数
QCM
频率范围：1-10MHz
频率分辨率：标准型:±0.12Hz@4readings/sec、可选:±0.03Hz@10readings/sec
频率稳定性：在0?to50?C，总计±2ppm
可选择的测量周期：0.10to2sec(每级增量0.05sec)
测量选择：1to20readings
存储膜系：99
模拟输出：2路0to10VDC输出,沉积速率&膜厚
数字输入/输出：2路数字输入,4路继电输出
数字接口：标准型:RS-232、可选:USBor以太网
电源：0-120/200-240VAC,50/60Hz,20W
CE标识：Class1equipment、73/72/EECLVD,89/336/EECECD
安装支架：1/2-rackcabinet,3-1/2"high,89x213x197mm(3-1/2"x8-1/2"x7-3/4")
重量：2.7Kg(6lbs)
Windows软件(included)：提供远程安装和操作指导，数据录入功能>多通道石英晶体监测仪的使用方法 开启速率和膜厚测量，只需先按住Zero键以清除上次读数，然后关闭，打开源和传感器档板。宽大明亮的LED显示器可以同时显示膜层厚度和沉积速率，即使操作人员离监测仪一定距离也仍然清晰可见。当达到预设膜厚或者镀膜时间到了，档板就会自动关闭，同时前面板报警器开始亮灯。在镀膜过程中，操作员可以在任意时间通过XtalLife键来查看晶片的剩余使用寿命。双菜单可以对监测仪的99个存储膜系进行设置。首先，选“program”键，进入菜单，然后，旋转拨针钮，这样就可以选择或者编辑参数了。主显示界面显示菜单提示，而设定的数据可以在辅助界面中找到。
