日置 HIOKI IM3570 阻抗分析仪
东莞市泰成电子仪器经营部
简称“泰成电子”
王生：13318450786（微信同号） 邮箱：tc13318450786@126.com
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1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
阻抗分析仪IM3570测量方式：压电元件的共振特性的测量
LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定，并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。
