详细说明
1.深圳市禾苗分析仪器有限公司是集设计开发，生产销售一体的现代化，专业化，规模化的优秀企业。企业拥有一支高技术及凝聚力强的设计团队，生产，管理队伍，并聘请了经济学教授作为企业高级顾问，为打造世界顶级品牌—禾苗分析HELEEX国产镀层测厚仪提供了保障。旗下XRFx2034d5n、元素分析仪等产品深受客户喜爱。 2.深圳市禾苗分析仪器有限公司坚持走社会效益、经济效益与环境效益并重的企业发展之路，立足于商务服务行业，努力追求管理技术创新，不断拓展服务领域，积极营造温馨的文化氛围，为您提供高性价比的RoHS检测产品，并树立禾苗分析禾苗HELEEX品牌形象。 延伸拓展 产品详情：膜厚测试仪校准方法 膜厚测试仪校准方法 1仪器校零 1．1将测量探头压在铁基上（或不带涂层的测量体上），沧州欧谱再轻按一下校零键ZERO进行校零。在按ZERO键时，测量探头在铁基上不要晃动。同时要注意，只有在按完ZERO键后，才能提起探头，否则，校零不正确。 1．2将测量探头提起（或不带涂层的测量体上），观察铁基上的测量值，若测量值在0附近，说明校零成功，否则，应得新校零。 2仪器校满度 2．1根据要测量的涂层厚度，选择 适当的标准膜片，进行满度校准。 2．2先将标准膜片放在铁基上（或不带涂层的测量体上）。 C2．3再将测量探头压在标准膜片上，测量值就显示在显示器上，若测量值与标准膜片不同，测量值可通过加1键或减1键来修正。修正时，测量探头一定提起，否则，按加1键或减1键无效。 2．4为保证校满度的准确性，可通过多次测同一标准膜片来验证。 3.深圳市禾苗分析仪器有限公司的诚信、实力和产品质量获得业界的认可。欢迎各界朋友莅临参观、指导和业务洽谈。更多详细信息请访问：heleex.com
