计算机控制光学表面成形中大规模驻留时间求解

   2023-12-16 互联网1540
核心提示: 摘 要:采用基于稀疏矩阵的大规模非负最小二乘法,对大口径、微浮雕结构光学元件加工中的驻留时间进行了分析与求解,并对该算

   摘 要:采用基于稀疏矩阵的大规模非负最小二乘法,对大口径、微浮雕结构光学元件加工中的驻留时间进行了分析与求解,并对该算法开展了正则化研究。仿真结果表明:与传统非负最小二乘法相比,基于稀疏矩阵的大规模非负最小二乘法精度高、效率快。采用该算法仿真加工平均振幅为1.177 6倍波长的大径、微浮雕结构光学元件,误差面形均方根收敛至0.067倍波长。

   驻留时间算法是计算机控制光学表面成形(CCOS)的关键技术之一。国内外常见驻留时间求解方法有脉冲迭代法、傅里叶变换法、数值迭代法和矩阵求解法等。脉冲迭代方法存在计算发散的问题[1]。傅里叶变换法利用时域卷积等同频域乘积的原理,将时域卷积运算变换到频域作乘法运算,计算效率高,但需多次调整参数来实现驻留时间解的非负[2]。数值迭代法先根据初始面形误差给驻留时间函数一个初始值,然后根据一定的公式反复迭代,直至满足收敛条件,计算效率较低,某些情况下会发生振荡而无法收敛[3]。矩阵方程法是2维卷积方程离散简化为线性矩阵方程求解的方法,通过求解矩阵方程得到驻留时间函数。光学加工中,大口径、微浮雕结构的光学元件(如透镜阵列、相位板等)将带来表面轨迹点数量的增加。特别是微浮雕结构的光学元件,面形结构起伏变化较大,所对应的去除量分布均匀性差;并且要较一般折反射元件加工去除量偏大,存在大量的小空间周期结构,由此对应的面形采样点与轨迹点密度偏大。以上两种情况,将最终导致形成的驻留时间求解问题规模大、病态性强。在保证求解结果收敛性、稳定性的前提下,如何高效率计算大规模数据处理是CCOS技术加工大口径、微浮雕结构的光学元件亟待解决的关键技术之一。为此,本文基于矩阵方程法的思想,针对CCOS应用中非回转对称去除函数形成的驻留时间矩阵方程特征,研究了一种基于稀疏矩阵的大规模驻留时间算法,并采用正则化方法降低方程的病态性,最后运用该算法进行了大口径微浮雕结构面形的仿真加工。

    1 大规模驻留时间矩阵方程模型

  以工件上某一角点为参考点,建立工件坐标系(X,Y)。同理,建立非回转对称去除函数坐标系(X′,Y′),如图1所示。

  抛光时,工件表面任意一点(x,y)的去除量,相当于抛光模在工件表面作进给,其中心位于工件表面各点(ξ,η)对点(x,y)产生去除量的叠加[4-5]。当抛光模沿着走刀路径(图2)和驻留时间函数扫描完光学元件表面所有的轨迹点后,光学元件表面某点的实际材料去除量为

i=1式中:Nt是抛光模驻留光学元件表面的轨迹点总数;R(xk-ξi,yk-ηi)为抛光模驻留在(ξi,ηi)处时,抛光模在点(xk,yk)处的材料去除量;T(ξi,ηi)为抛光模在轨迹点(ξi,ηi)处的驻留时间。引入符号表示

则式(1)可写为矩阵形式

式中:Nr表示面形采样点的个数。式(2)左边为期望的材料去除量函数,即将驻留时间反卷积求解模型变为驻留时间矩阵方程求解模型[5]。

   抛光过程中抛光模驻留在某一轨迹点抛光时,光学表面的材料去除区域限定在一定范围内,很多轨迹点上的去除量为零,映射到式(2)中,R矩阵中存在大量的零值。实际加工中获得矩阵R中非零值所占带宽较窄,只有几条对角线上存在非零数值,因此R是一个稀疏矩阵。当元件的尺寸越大,抛光模的轨迹点数Nt和光学元件表面形采样点Nr越多时,矩阵R中非零值所占带宽越窄,稀疏性越明显。以往驻留时间算法主要侧重线性程组解的精度,而忽略线性方程本身的特征,导致计算效率较低,精度提高受到限制。本文采用了一种新方法———基于稀疏矩阵的大规模非负最小二乘法用于驻留时间的求解。

    2 基于稀疏矩阵的大规模非负最小二乘法

   算法以非负最小二乘为基础,以优化计算残差的2范数为优化目标,其标准形式为

       将其进行变换为

   由于RTR是一个半正定矩阵,式(4)是一个非线性的凸规划问题。根据Karush-Kuhn-Tucker条件可以转换为单调线性互补问题,即

  若R是列满秩矩阵,RTR是正定矩阵,则式(5)为严格单调线性互补问题,而实际获得的R满足以上两个条件。针对此类问题,算法中采用块转轴运算法则进行求解,基本思想如下:

  令F和G是{1,…,n}的子集,并且满足F∩G={1,…,n},F∩G=;将矩阵R分解为R=[RF,RG],这里RF∈Rm×|F|,RG∈Rm×|G|,|F|,|G|分别对应的RF与RG的列数。假设(TF,yG)是式(5)一对互补基础解,令TF是式(6)的无约束最小二乘解,则yG由式(7)计算。

  若TF≥0,yG≥0,T是式(4)的最优解;若存在任意Ti<0,i∈F或yi<0,i∈G,T是式(4)的不可行解。对于不可行解,交换F和G中负值元素,由式(6),(7)更新yG,TF;然后反复循环,直到得到最优解[7-8]。

    3 正则化方法

   由于基于稀疏矩阵的大规模非负最小二乘法中,采用了Cholesky分解法计算式(5)中矩阵乘法,计算速度特别快的同时,要求矩阵方程的条件数小于108,否则求解失败。针对这种情况,文中引入了Tikhonov正则化方法来降低方程的病态性,它的基本形式为[9]

    式中:α为正则化参数,一般为正数。当L为单位矩阵时,称其为标准Tikhonov正则化。文中根据标准Tik-honov正则化,引入正则化参数,将矩阵方程转换为

  将原来的矩阵R扩展为(Nr+Nt)×Nt矩阵,同时矩阵H扩展为(Nr+Nt)×1。改进后的式(9)彻底变成了一个求解亏秩矩阵最小二乘问题,降低了式(2)的病态性,同时方程的解要满足使式(10)最小[6]

   由此可见,正则化参数α降低驻留时间解的能量与线性方程组的病态性,但同时相当于减小了计算残差的权值,相当于在面形计算残差和驻留时间解的能量幅度之间加入一个调节权值。较大的α可以降低驻留时间解的能量与线性方程组的病态性,但同时相当于减小了面形计算残差的权值,将引起残留面形误差值变大。正则化参数α的取值至关重要。

   文中采用先验法的思想,通过对不同微浮雕结构面形进行数值计算发现:当10-6≤α≤0.05时,误差面形均方根(RMS)值和峰谷(PV)值与无正则化的结果相比,偏差在1%以下,这与实际加工过程中产生的误差相比,可以忽略。当然文中给出的正则化参数的范围,并不能完全解决遇到的问题。因此,该范围对于其他面形只具有参考意义,实际加工中还要根据具体情况进行选择。

    4 驻留时间算法比较

   图3为典型320mm×320mm的微浮雕面形,输入WYKO-Vision32分析软件中显示,RMS值为0.251λ,20点PV值为1.904λ(其中λ=632.8nm)。在图3所示的微浮雕面形中心处取120mm×120mm区域,保持其他抛光参数与条件不变,分别采用传统非负最小二乘法、基于稀疏矩阵的大规模非负最小二乘法分别计算驻留时间,得到的两种算法仿真加工后的残留误差分布如图4所示,其中传统的非负最小二乘法采用MATLAB中lsqnonneg函数来实现。

   由图4可见,两种算法误差分布基本一致,RMS及PV数值表明,文中研究的算法精度比传统非负最小二乘法高。计算过程中,二者所用时间差异很大,传统非负最小二乘法计算时间6min,而基于稀疏矩阵的大规模非负最小二乘法仅需0.1min。

   为了进一步比较计算效率,在保持其他条件不变的情况下,改变矩阵R规模,同时采用两种算法进行计算,所用时间比较如图5所示。图中横坐标表示矩阵的规模(行数),纵坐标表示算法计算所用时间。图中曲线显示:在矩阵规模小于2 000时,两种算法的效率相差较小;而当矩阵规模大于2 000时,传统非负最小二乘法所用时间呈现近似底数大于1的指数函数增大,基于稀疏矩阵的大规模非负最小二乘法所用时间远小于传统非负最小二乘法,增长趋势很缓慢。


   对于大规模矩阵计算时,传统非负最小二乘法在算法实现过程中需要大量的内存空间。基于稀疏矩阵的大规模非负最小二乘法则采用顺序压缩法[10],即采用了3个数组存储一个稀疏矩阵。由于实际计算中矩阵R中的非零元素占总元素数量的比例不到5%,而且随着矩阵规模的增大,所占的比例越来越小。因此,基于稀疏矩阵的大规模非负最小二乘法对矩阵R的存储方法,更适合用于大规模的计算。

    5 仿真结果与分析

   在图3所示320mm×320mm微浮雕面形中,最大振幅为2.2λ,平均振幅为1.177 6λ。采用本文研究的算法对该面形进行仿真加工,取α=0.01,矩阵规模91 022×91 022,加工结果(图6)输入WYKO-Vision32分析软件中显示,得到的RMS值为0.229λ,20点PV值为1.675λ。从图6(a)中可以看出,仿真加工面形总体结构与目标面形相一致。图6(b)中,面形中心轮廓线在y方向吻合度较高;在x方向大体趋势与目标相一致,但面形轮廓中引入了一些小空间周期的结构,能量集中在中高频段,这主要是由抛光斑与轨迹参数的耦合程度引起。将仿真加工面形(图6(a))与目标面形(图3(a))进行相减,可得如图7(a)所示的误差面形。误差面形的RMS值为0.067λ,20点PV值为0.815λ,表明加工取得了比较理想的效果,从而证明了本文驻留时间算法的有效性与合理性。

    6 结 论

  本文根据微浮雕结构面形的特点,分析了去除函数非回转对称时所形成的驻留时间求解方程的特征———大规模、稀疏、病态性强。采用了基于稀疏矩阵的大规模非负最小二乘法,并对之开展了正则化研究,解决了驻留时间求解的病态性问题,大幅度提高了计算效率、降低了内存需求。采用基于稀疏矩阵的大规模非负最小二乘仿真加工320mm×320mm微浮雕结构的光学元件,仿真结果表明,误差面形RMS收敛至0.067λ,从而证明了该算法的合理性。但是文中采用正则化降低矩阵方程病态性的同时,也抑制了驻留时间解向量收敛性的提高,从而降低了加工面形的精度。建立正则化与驻留时间解向量收敛性的平衡机制,研究二者之间的自适应算法,是今后驻留时间求解算法的一项重要工作。

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本文作者:罗丽丽, 何建国, 王亚军, 张云飞, 黄 文, 吉 方


 
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