1MHz～3GHz，以10kHz分档
阻抗测量范围宽，从200mΩ到3kΩ
在低试信号电平上具有优良的测量重复性
基本精度为1%
高速测量:10ms
安捷伦 4287A射频LCR测试仪在1 MHz～3 GHz频率范围可以提供精确、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。
生产率高、质量可靠
安捷伦 4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量速度非常快。此外，在小测试电流(100mA)处优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。
系统组建简单
测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件接点附近，而不会使误差有任何增大。内置比较器功能、高速GPIB接口和处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。
便于使用
8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外，若干APC-7，SMD测试夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用，从而无需制作专用夹具。
技术指标
测量参数： Z ， Y ，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ
测量电路形式：串联和并联
工作频率：1 MHz～3 GHz
频率分辨率：10 kHz
信号源特性：
振荡器电平：5mVrms～0.25Vrms(输出端开路)
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