技术参数
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型号 |
QuaNix 4200 |
QuaNix 4500 |
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基体 |
Fe磁性 |
Fe/NFe磁性非磁性 |
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探头形式 |
一体 |
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显示 |
LCD数字显示 |
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测量范围 |
0－3000μm |
Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm |
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测量精度 |
0－50μm：≤±1μm， 50－1000μm：≤±1.5%， 1000－2000μm：≤±2%，2000－5000μm≤±3% |
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显示精度 |
1μm |
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工作温度 |
－10－＋60℃ |
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温度补偿 |
0－50℃ |
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最小基体 |
10mm×10mm |
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最小曲率 |
凸、凹半径：3mm/25mm |
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最薄基体 |
Fe：0.2mm，NFe：0.05mm |
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电源 |
5号电池2节 |
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重量 |
110g |
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尺寸 |
110×60×27mm |
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特点：
零位稳定：
所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位，
可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。
仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。
一台好的测厚仪校零后，可以长时间保持零位不漂移，
确保准确测量
温度补偿：
涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以保证不同温度下的测量精度。
红宝石探头：
探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头，其表面磨损后会带来很大的误差。
独特的直流采样技术：
使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的优越和提高