深圳市禾苗分析仪器有限公司  

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1.深圳市禾苗分析仪器有限公司是集设计开发，生产销售一体的现代化，专业化，规模化的优秀企业。企业拥有一支高技术及凝聚力强的设计团队，生产，管理队伍，并聘请了经济学教授作为企业高级顾问，为打造世界顶级品牌—禾苗分析HELEEXROHS测试仪提供了保障。旗下X荧光光谱仪、膜厚仪x2034d5n等产品深受客户喜爱。 2.深圳市禾苗分析仪器有限公司长期致力于XRF的服务哪里好、xrf测试滤纸法和压片法、进口xrf、XRF哪些好办等商务服务，多年来，禾苗分析始终凭借良好的人脉关系、有效的资源整合、优质的服务态度，为众多的客户提供一站式RoHS检测产品及服务。禾苗分析拥有一支专业技术队伍，多年从事相关商务服务，具有非常丰富的专业经验。同时，禾苗分析也非常注重人才的培养，通过机制和提供培训机会，形成适合人才成长的环境。 延伸拓展 产品详情： 膜厚测试仪校准方法 膜厚测试仪校准方法 1仪器校零 1．1将测量探头压在铁基上（或不带涂层的测量体上），沧州欧谱再轻按一下校零键ZERO进行校零。在按ZERO键时，测量探头在铁基上不要晃动。同时要注意，只有在按完ZERO键后，才能提起探头，否则，校零不正确。 1．2将测量探头提起（或不带涂层的测量体上），观察铁基上的测量值，若测量值在0附近，说明校零成功，否则，应得新校零。 2仪器校满度 2．1根据要测量的涂层厚度，选择 适当的标准膜片，进行满度校准。 2．2先将标准膜片放在铁基上（或不带涂层的测量体上）。 C2．3再将测量探头压在标准膜片上，测量值就显示在显示器上，若测量值与标准膜片不同，测量值可通过加1键或减1键来修正。修正时，测量探头一定提起，否则，按加1键或减1键无效。 2．4为保证校满度的准确性，可通过多次测同一标准膜片来验证。 3.禾苗分析的客户服务和质量控制走在行业的前列，获得了世界各地客户的高度称赞。我们的目标是与客户并肩合作发展，如果您有任何关于产品设计的新理念，我们的设计师将帮助您实现想法；如果您对我们的产品感兴趣，请随时联系，我们期待着与您合作。公司官网：heleex.com